26.03.2015

PIXE & TES-PIXE

PIXE:llä voidaan tutkia hyvin pieniä pitoisuuksia eri alkuaineita. Tekniikka perustuu karakteristen röntgensäteiden takaisinsirontaan. Jokainen alkuaine siroo röntgeneitä itselleentyypillisellä tavalla, ja erittäin tarkoilla ilmaisimilla on mahdollista kerätä tämä säteily. Säteilyn laatu kertoo kustakin alkuaineesta.

PIXE tutkimus mahdollistaa tarkan alkuaineanalyysin tekemisen eri taide-PIXE & TES-PIXEesineistä. Alkuainekoostumuksesta saadaan tietoon teoksessa käytetyt pigmentit. Pigmentit ja eritoten niiden epäpuhtaudet saattavat usein paljastaa taide-esineen ajoituksen ja tekopaikan, sillä pigmentit ovat tietyn ajan innovaatioita ja niitä on käytetty ajan saatossa eri paikoissa eri tavalla.

TES-PIXE perustuu samaan tekniikkaan, kuin PIXE. Ainoa ero näiden tekniikoiden välillä on, että TES-PIXE on noin 10 kertaa tarkempi, kuin ”tavallinen” PIXE. Tätä tekniikkaa kehitetään yhä eteenpäin Jyväskylän yliopistossa ja sillä voidaan testata jo erityisesti keramiikkaa ja muita kovia materiaaleja.