27.11.2017

Soveltavan fysiikan ohjelmatyöt

I. Elektronisuihkulitografia 1 ov

Työssä tutustutaan aluksi pyyhkäisyelektronimikroskoopin (Scanning Electron Microscope) rakenteeseen ja toimintaperiaatteeseen. Tavanomaisen kuvan-muodostuksen lisäksi SEM:a käytetään näytteenvalmistuksessa, jossa haluttu näytegeometria on mahdollista piirtää tietokoneohjatulla elektronisuihkulla elektroniherkälle polymeerikalvolle. Litografisilla prosessointimenetelmillä voidaan täten valmistaa jopa nanomittakaavan sähköisiä komponentteja. Työn varsinaisessa suoritusosassa itse suunniteltu kuvio valmistetaan elektroni-suihkulitografialla piikiekon päälle.

II. AFM-mikroskopia 1 ov

Atomivoimamikroskoopin (Atomic Force Microscope) käyttö erilaisten pintojen hienorakenteen tutkimiseen perustuu sen poikkeuksellisen hyvään erotus-kykyyn. Parhaimmillaan AFM:lla voidaan havaita yksittäisiä atomeja. Tämän työn tarkoituksena on perehtyä AFM:n kuvanmuodostustekniikoihin sekä erityisesti ohjelmatyön ensimmäisessä osassa valmistetun näytteen 3-ulotteisen rakenteen analysointiin.

afmfig.gif

AFM-kuva todellisesta nanokomponentista.