Antti Kanniainen

Projektitutkija

Yksikkö

Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta

Laitos / Vastuualue

Fysiikan laitos

Sähköposti

antti.j.kanniainen@jyu.fi

Tieteenalat

114 Fysiikka

Julkaisut

Julkaisu

2025

Nanofabrication of sharp conductive diamond tip probe chips and their application in reverse tip sample scanning probe microscopy

Micro and Nano Engineering.

Wouters, L.

Cho, J.

Gim, S.

Yang, J.

Kanniainen, A.

Lee, K.

Lagrain, P.

Peric, N.

Hantschel, T.

Julkaisu

2023

Strain effects in phosphorus bound exciton transitions in silicon

Physical Review Materials.

Loippo, Teemu

Kanniainen, Antti

Muhonen, Juha T.

Julkaisu

2019

Reverse tip sample scanning for precise and high-throughput electrical characterization of advanced nodes

Annual IEEE International Electron Devices Meeting.

Celano, U.

Hantschel, T.

Boehme, T.

Kanniainen, A.

Wouters, L.

Bender, H.

Bosman, N.

Drijbooms, C.

Folkersma, S.

Paredis, K.

Vandervorst, W.

der Heide, P. v.