KEMS3250 Röntgendiffraktiomenetelmien perusteet (6 op)
Osaamistavoitteet
Opiskelija ymmärtää röntgenkristallografisten menetelmien teoreettiset perusteet ja osaa soveltaa niitä perustasolla kiteisten aineiden karakterisoinnissa yksikidediffraktioon perustuvilla menetelmillä.
Hahmottaa yksikiderakenneratkaisumenetelmän kokeellisella tasolla sekä tiedostaa mittaustekniikkaan liittyviä näyte- ja laiteteknisiä muuttujia.
Suoritustavat
Kurssi suoritetaan harjoitustehtävillä, osallistumalla laitedemonstraation ja kurssin päätteksi järjestettävällä lopputentillä.
Sisältö
Kurssilla käsitellään röntgenkristallografian perusteita (mm. röntgen säteilyn synty, kidejärjestelmät, symmetria), laite- ja mittaustekniikkaa (yksikidediffraktio) ja kiderakenteen ratkaisemiseen sekä ratkaisun kuvantamiseen liittyviä metodeja sekä ohjelmistoja. Kurssi sisältää laitedemonstraation ja harjoitustyön (kiderakenteen ratkaisu).
Lisätiedot
Kurssi luennoidaan vuosittain kolmannessa jaksossa.
Oppimateriaalit
Luentomateriaali ja lisäaineistona alan kirjallisuus.
Tenttimateriaali: luentomateriaali ja oppikirja (Werner Massa, Crystal structure determination, Springer-Verlag Berlin Heidelberg, Germany, 2000)
Arviointiperusteet
Kurssi suoritetaan harjoitustyöllä ja kurssin päätteksi järjestettävällä lopputentillä.
Kurssi voidaan suorittaa myös kirjatenttinä.
Arvosanakohtaiset arviointiperusteet
Kurssin lopuksi suoritettavan lopputentin, yleisen tentin ja kirjatentin maksimipistemäärä on 24. Alimpaan hyväksyttyyn arvosanaan (1/5) tarvitaan 50% pisteistä.
Esitietovaatimukset
Kemian aineopinnot